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0755-23345158
測試探針

XQY-SMAK-TNK126KY

【產品名稱】精密高頻測試探針

【外殼材質】黃銅鍍金

【測試類型】射頻開關座三代

【頻率范圍】DC-6GHz

【外形尺寸】33.5*16*9mm

【定制服務】特殊尺寸、接頭類型、材質、頻率范圍均可定制



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  • 應用領域

    應用于半導體、通信、航空航天、汽車電子及醫療設備等領域的高頻信號測試與性能驗證。